霍爾效應測量系統是一種用于材料科學、信息科學與系統科學領域的儀器，主要用于研究光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。

 

測試流程：

 

1、接通電源，打開電腦。

2、調整儀器，放置準備好的樣品。

3、抽真空。

4、設置參數。

5、加液氮至所需溫度條件。

6、測量，讀取結果，保存。

7、斷開電源，關閉電腦。

8、待樣品冷卻至常溫在大氣壓下取樣。

 

霍爾效應測量系統 L79/HCS可用于半導體組件性能表征，包括:遷移率，電阻率，載流子濃度和霍爾常數。

 

特點：

 

• 載流子濃度

• 電阻率

• 遷移率

• 電導率

• α (水平電阻值/垂直電阻值)

• 霍爾常數

• 磁致電阻